Mikroskopie temného pole

Princip mikroskopie temného pole

Mikroskopie temného pole, označovaná také jako DFM (anglicky darkfield microscopy) je typ světelné mikroskopie, při němž do objektivu vstupuje pouze světlo difraktované, refraktované a odražené objektem. Světlo, které pouze prochází, objektiv mine. Toho je docíleno pomocí kruhové clony, které propouští jen úzký prstenec světla podél jejího obvodu. Světlo za clonou následně prochází tak šikmo k rovině přístroje, že vstupuje do objektivu jen tehdy, dostane-li se mu do cesty pozorovaný objekt. Objekty jsou proto při mikroskopii temného pole pozorovány jako světlé předměty na tmavém pozadí (temném poli).[1]

Reference

  1. DAVIDSON, MW; ABRAMOWITZ, M. Optical Microscopy. [s.l.]: [s.n.] 

Externí odkazy

  • Logo Wikimedia Commons Obrázky, zvuky či videa k tématu Mikroskopie temného pole na Wikimedia Commons
Pahýl
Pahýl
Tento článek je příliš stručný nebo postrádá důležité informace.
Pomozte Wikipedii tím, že jej vhodně rozšíříte. Nevkládejte však bez oprávnění cizí texty.